Sistem Pengukuran Ketebalan Sinar-X XCH-4000
- Hal ini memungkinkan pemantauan ketebalan film secara real-time, membantu mencegah produk cacat terus-menerus di sumbernya dan memperkuat kontrol kualitas secara keseluruhan.
- Sistem ini mengintegrasikan dua teknologi inti: kalibrasi cerdas AI dan pemindaian traversing waktu nyata, memungkinkan deteksi akurat terhadap penyimpangan ketebalan.
- Ketika anomali terdeteksi, sistem secara otomatis merekam data dan memicu alarm untuk segera memberi tahu operator agar dapat melakukan penyesuaian tepat waktu dan mencegah kerugian.
- Jika diintegrasikan dengan kabinet kontrol cetakan, sistem ini dapat terhubung dengan cetakan otomatis untuk melakukan koreksi ketebalan secara real-time.
Bagikan ke
Sekilas Sistem Pengukuran Ketebalan Sinar-X XCH-4000
Sistem pengukuran ketebalan sinar-X XCH-4000 dirancang khusus untuk industri film dan menggunakan teknologi pengukuran non-kontak untuk mendukung peralatan produksi utama seperti lini film cetak dan lini film tiup. Sistem ini memastikan keseragaman ketebalan film yang stabil dan tingkat tinggi di seluruh produksi. Secara keseluruhan, sistem ini meningkatkan efisiensi biaya lini produksi dan meningkatkan daya saing produk.
Parameter Teknis Sistem Pengukuran Ketebalan Sinar-X XCH-4000
| Subjek | Parameter |
| Kecepatan pemindaian | 0–20m/menit |
| Akurasi posisi pemindaian | 0.1 μm |
| Akurasi sinkronisasi sensor atas dan bawah | 0.1 μm |
| Unit pengukuran | g/m², mg/m², μm, mm |
| Ambient temperatur | 0–60 ℃ |
| Kelembaban sekitar | ≤95% |
| Daya mesin secara keseluruhan | 2000W |
| Celah ruang | 18mm |
| Mengukur lebar | 0 – 10m |
| Akurasi pengukuran berulang | 0.01–0.05 m |
| Catatan: Akurasi presisi hanya dapat dihitung berdasarkan lebar material dan kecepatan putaran yang sebenarnya. | |
